費(fèi)希爾測(cè)厚儀DualScope DMP20信息測(cè)量原理與核心性能

測(cè)量原理

菲希爾 DualScope DMP20 測(cè)厚儀整合兩種經(jīng)典測(cè)量技術(shù)，滿足不同基材與涂層的檢測(cè)需求：

磁感應(yīng)法：遵循 DIN EN ISO 2178 標(biāo)準(zhǔn)快速融入，針對(duì)鐵、鋼等磁性金屬基材各領域，通過檢測(cè)涂層對(duì)磁場(chǎng)的影響，精準(zhǔn)計(jì)算非磁性涂層（如油漆主要抓手、鍍鉻層）的厚度高效節能。

電渦流法：依據(jù) DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)，適用于鋁進行部署、銅等非磁性金屬基材責任，利用涂層厚度對(duì)電渦流強(qiáng)度的干擾特性，測(cè)量非導(dǎo)電涂層（如陽極氧化膜保護好、塑料涂層）的厚度組建。

核心測(cè)量性能

范圍與精度：測(cè)量范圍隨探頭及材料組合靈活變化，覆蓋多種涂層厚度需求特點；精度達(dá) ±(1% 讀數(shù) + 1µm)深刻變革，確保數(shù)據(jù)可靠。

分辨率：最小分辨率為 0.1µm和諧共生，可捕捉涂層厚度的微小差異質生產力，滿足高精度檢測(cè)場(chǎng)景。

探頭適配性：支持多種可更換數(shù)字探頭科技實力，兼容 F 系列探頭（需 DMP-F 適配器）處理，適配平面、曲面在此基礎上、小孔等復(fù)雜工件的測(cè)量需求助力各行。